電壓表的問題，透過圖書和論文來找解法和答案更準確安心。 我們找到下列免費下載的地點或者是各式教學

單晶片微電腦8051/8951原理與應用(C語言)(第四版)(附多媒體光碟)

為了解決電壓表的問題，作者蔡朝洋,蔡承佑 這樣論述：

　　本書使用目前最熱門的KEIL C來學習單晶片微電腦，本書共分為四篇，第一篇將單晶片微電腦MCS-51及C語言的相關知識做了深入淺出的說明，第二篇至第四篇為C語言程式所撰寫控制單晶片微電腦的應用實例，是一本理論與實務並重的書籍。本書中每個實例均經由作者精心規劃，且每個程式範例均經由作者上機實驗過。讀者們若能一面研讀本書一面依序實習，定可收到事半功倍之效果，進而獲得單晶片微電腦控制之整體知識。本書適合大學、科大電子、電機、資工系「單晶片微電腦實務」課程使用。 本書特色 　　1.本書共分為四篇，使用目前最熱門的KEIL C來學習單晶片微電腦，內容深入淺出，理論與實務並重，

在學習上更加得心應手。 　　2.本書詳細說明C 語言入門語法、程式架構、運算子及特殊指令，是學習單晶片微電腦的最佳書籍。 　　3.本書中的每個實例均經由作者精心規劃，且由作者親自上機實驗，書後更附有無試用期限的KEIL C試用版。

電壓表進入發燒排行的影片

電信數據機交換式電源供應器檢測之研究

為了解決電壓表的問題，作者王子霆 這樣論述：

本研究致力於電信網路障礙排除以及網路維護方法，發現網路障礙數，除了線路斷線外，最常見的問題就在於電源供應器發生電壓不穩造成網路瞬間斷訊，或是用戶家的電壓問題造成數據機瞬斷。以前的老師傅多用電壓表進行測試，但卻無法測試負載電壓而造成多次障礙；而目前在網路維護上，大部分都是依據交換式電源供應器的外觀判斷是否老舊而直接進行盲換，造成浪費。在改善上述問題上，本研究認為網路數據機的交換式電源供應器極具關鍵性，因而以此為主要研究對象，再進一步以C電信數據機規格為標準，設計開發專屬的電源檢測器，用以測試電源供應器負載電壓的穩定度。本研究所開發的電源檢測器不僅造價成本低，而且又能準確測量負載電壓；可提供給維

修人員進行障礙排除使用或事先針對舊機進行測試，可免去盲換，降低新機消耗量成本，同時有助於降低障礙量；更能夠有效改善電信公司維修服務的品質，提升公司形象。

Arduino程式教學(RFID模組篇)

為了解決電壓表的問題，作者曹永忠,許碩芳,許智誠,蔡英德 這樣論述：

　　本書主要是給讀者熟悉Arduino的擴充元件-RFID無線射頻模組。Arduino開發板最強大的不只是它的簡單易學的開發工具，最強大的是它豐富的周邊模組與簡單易學的模組函式庫，幾乎Maker想到的東西，都有廠商或Maker開發它的周邊模組，透過這些周邊模組，Maker可以輕易的將想要完成的東西用堆積木的方式快速建立，而且最強大的是這些周邊模組都有對應的函式庫，讓Maker不需要具有深厚的電子、電機與電路能力，就可以輕易駕御這些模組。 　　本書介紹市面上最完整、最受歡迎的RFID無線射頻模組，讓讀者可以輕鬆學會這些常用模組的使用方法，進而提升各位Maker的實力。  

基於電壓調整機制之超音波濃度量測動態範圍自動校正系統

為了解決電壓表的問題，作者許伯瑜 這樣論述：

台灣位處太平洋，四面環海，每年都遭受數個颱風侵襲，這樣的情形造成水庫淤積率逐年攀升。擁有非侵入、即時性等特點的超音波檢測技術是監測泥沙濃度的主要方法之一，以壓電片製成的超音波換能器更是這個系統裡的核心元件。本論文即是為了提高可量測的泥沙濃度動態範圍所設計之一發一收電路系統。系統接收電路以AD8310對數放大器為主體，將接收換能器接收到之1MHz弦波訊號轉換包絡線再經由ADC輸出數位訊號給ARM微處理器分析。然而，由於AD8310有其動態範圍的限制，過強的發射電壓會造成低濃度變化無法準確地被偵測，為了提高整體量測的動態範圍，本研究設計出了一套能夠自動在三種發射電壓中選擇最適宜待測濃度之發射電壓

的系統。透過ARM微處理器控制功率放大器、電壓調整電路，以達成利用不同大小的發射訊號供給超音波換能器。其中功率放大器採用切換式功率放大器，利用電晶體使開關達到ZVS提高輸出效率。電壓選擇電路則是利用三個LDO直流穩壓器分別連接電晶體，利用GPIO接口控制開關，供給發射電壓給功率放大器，達成自動掃瞄不同發射電壓。驗證方面，利用高嶺土製作不同濃度的懸浮液體，而電壓調整電路選用了三種穩壓器，分別為0.8V, 1.5V, 2.5V，以各個電壓分別進行測量，搭配理論校正後之率定曲線，對量測後的實驗數據進行比對。對照後發現，單一發射電壓之動態範圍會受到雜訊或者過高濃度干擾，量測時會有所受限。改以多發射電壓

進行量測，搭配動態偵測，自動切換適合量測環境之發射電壓，量測時大約可提高5dB左右之動態範圍，且在低濃度量測時也比單一發射電壓表現來的好，此結果將有助於提供超音波濃度量測系統一個可行的發展方向。