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超解析近場結構奈米氧化銀薄膜穿透光譜研究

為了解決sp固態硬碟的問題，作者余青展 這樣論述：

在本論文中，首先以光學顯微鏡外接光譜儀與加熱平台，量測單層氧化銀奈米薄膜(AgOx)與超解析近場結構氧化銀(ZnS-SiO2/AgOx/ ZnS-SiO2) 奈米薄膜之聚焦穿透光譜。隨著溫度的增加，在100℃∼200℃左右，單層氧化銀5nm薄膜之穿透率由0.8-0.9下降到0.5-0.6，比較AgOx與Ag-rich的n,k值，證實了氧化銀會因熱分解而析出銀結晶顆粒(AgOx→Ag+O2)導致穿透率下降，在單層氧化銀厚度5nm∼60nm，相變溫度在135∼178℃之間；加熱到600℃，由照片比較可以明顯看出Ag粒子有蒸散的現象。超解析近場結構氧化銀因為上下保護層的作用，中間的氧化銀因熱分解成

銀與氧的混合態，故n,k值可以視為銀與氧的混合態，所以穿透率在160℃左右無明顯的下降；在280℃∼300℃，隨著中間氧化銀厚度越厚，氧(O2)從邊緣散溢出去，導致Ag比例增加使穿透率下降，加熱到600℃，由照片比較可以明顯看出Ag粒子在中間層有聚合的現象。另外比較平行光室溫穿透光譜，可以明顯看出隨著超解析近場結構氧化銀之氧化銀厚度越厚，其穿透波谷有往長波長方向位移的現象，我們可以利用厚度控制吸收波長的位置。