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exclusive-nor gate的問題，我們搜遍了碩博士論文和台灣出版的書籍，推薦陳本源寫的 數位邏輯電路實習(第四版) 可以從中找到所需的評價。
元智大學 生物與醫學資訊碩士學位學程 曾王道所指導 李孟宗的 確定性內建自我測試採用多元線性反饋移位暫存器實行低功耗和數據壓縮 （2013），提出exclusive-nor gate關鍵因素是什麼，來自於內嵌式自我測試、線性移位暫存器、最小消耗填充、低功率。
而第二篇論文國立高雄應用科技大學 電子工程系 吳曜東所指導 鄒騰輝的 二維光子晶體全光式元件之設計與分析 （2011），提出因為有 光子晶體的重點而找出了 exclusive-nor gate的解答。
數位邏輯電路實習(第四版)
為了解決exclusive-nor gate 的問題，作者陳本源 這樣論述：
本書著重創造力與解決問題之能力訓練，內容分數位IC、邏輯閘、正反器、計數器、解碼、多工器等十四章，每章並分目的、相關知識、實驗操作及問題等項，使學生經由實作來驗證原理，而達理論與實際的相互配合。 本書特色 1.本書著重創造力與解決問題能力的訓練。 2.實習中可能發生的問題與困難，本書則將原因予以分析，並提示讀者應如何解決。 3.本書適用於大學、科大電子、電機系二、三年級「數位邏輯電路實習」課程使用。
確定性內建自我測試採用多元線性反饋移位暫存器實行低功耗和數據壓縮
為了解決exclusive-nor gate 的問題，作者李孟宗 這樣論述：
本篇論文，針對Deterministic built-in self-test using Multiple linear feedback shift register for Low-Power Scan Test Data方法因對於Mintest效率會很低的狀況提出一個簡單的改善方法。我們利用一個簡單的deterministic TPG架構，在硬體架構上只使用幾組小且架構簡單的linear-feedback shift-register(LFSR)和一個AND邏輯閘、一個XOR、一個NOT、一個OR以及兩個2X1 MUX，並且利用minimum transition count fil
ling (MTC-filling)方法指定測試資料中的don't-cares bit的值達到降低power消耗的目的，在選擇性的使用資料差異性編碼去針對特定的狀況並適當的轉換成0多1少的資料，再將此資料以Muti-LFSR還原並藉此達到資料壓縮的目的。使用XOR、XNOR和一個D flip-folp還原資料。利用數組的LFSR還原測試資料可有效減少資料中所消耗的power。最後提出的改善將會在實驗結果中顯示對於Mintest兩種方法的壓縮差異。
二維光子晶體全光式元件之設計與分析
為了解決exclusive-nor gate 的問題，作者鄒騰輝 這樣論述：
我們討論二維光子晶體的特性來設計全光式元件。光子晶體是週期性的介電結構，它有一個重要的特性是光子能隙。由於此特性，使波長落在光子能隙中的光子無法通過光子晶體結構。在本論文中，我們藉由平面波展開法與有限時域差分法來設計與分析光子晶體全光式元件。首先我們利用馬赫詹德干涉儀來設計兩個全光式邏輯閘，藉由改變耦合長度，它可以造成破壞性干涉和建設性干涉，所以我們可以利用此特性設計XOR閘、AND閘。另外我們利用環形共振腔和共振腔來設計三工器，我們提出的三工器可以分別分出波長1310 nm、1490 nm 、1550 nm，這三個波長的傳輸效率分別為99.8%、97.8%、97.3%，因此我們提出的三工器
可應用於光纖到家 (fiber-to-the-home)系統中。最後我們利用多模干涉光子晶體波導來設計OR閘，當多模干涉光子晶體波導長度L=18a, 寬度W=14a 可以達到OR閘效果。