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記憶體超頻 效能進入發燒排行的影片

利用加速壽命試驗預測DRAM於超頻使用環境下之可靠度

為了解決記憶體超頻 效能的問題，作者王友隆 這樣論述：

隨著高度自動化型態時代的來臨，企業對電腦的依賴持續增加，記憶體為電腦設備中最重要的配備之一，其損壞將造成電腦無法運作而可能導致企業重大損失。近年來，有漸多之消費者自行將記憶體產品超頻使用，以期在原有的硬體規格條件下達到較佳之效能，但也可能導致系統壽命減短。本研究提出雙應力加速壽命試驗，運用「溫度」結合「超頻」雙重加嚴參數之測試條件，求得產品於正常環境溫度25℃且2400 MHz超頻使用條件下之壽命分別為1,733小時、1,719小時及1,764小時，與依照業界標準MIL-HDBK-217給定活化能值計算得之產品壽命呈現約66%的差異，若該記憶體使用於一般電腦每日使用8小時，超頻使用條件下之壽

命約為218天；若使用於伺服器類產品，每日使用24小時，其超頻使用條件下之壽命則僅約為73天。最後，將超頻視為加嚴參數，運用米勒定律預測得正常溫度環境且1600 MHz之正常使用頻率下之記憶體產品壽命為15,916小時，若使用於一般電腦和伺服器類產品，其壽命分別約為1,989天和663天。研究結果顯示，若使用者為提升電腦執行效能而自行將記憶體超頻使用，則將導致產品期望壽命減少約89%。